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Misplana 2.0
Misuratore con tecnologia laser di planarita' per prodotti piani

Il sistema Misplana 2.0 e ' un sistema semplice progettato per valutare i difetti di planarita' su una striscia, piastra o prodotto metallico e non metallico non riflettente ed a temperatura ambiente. ed e' composto da:

  • Solida struttura costruita per supportare e spostare i sensori, interamente motorizzata e controllata

  • Pannello di controllo operatore e manutenzione

  • Segnale di output visivo, sonoro e analogico di rilevazione della non conformita'



La struttura meccanica e' incorporata nella linea di processo e supporta il dispositivo di misurazione che e' montato sulla struttura utilizzando un sistema di regolazione a vite per garantire il perfetto allineamento e parallelismo. Il dispositivo di misurazione e' dotato di guide di precisione e di compenentistica di alta qualita'.

Come difetto, in termini generali, e' considerata una variazione della planarita' del pezzo o in altri termini una variazione della distanza tra il pezzo e la superficie di riferimento. Naturalmente la variazione puo' essere positiva o negativa, ed e' detta onda. La determinazione della forma d'onda viene presa considerando sia la distanza che la posizione valutate rispettivamente usando due sensori laser (montati sulla struttura lungo l'asse X) ed un encoder (montato sulla struttura lungo l'asse Y) che ne determina la posizione spaziale. Quando viene riscontrata la possibile onda, il sistema esegue un loop di misure nell'intorno con una routine programmata (seguendo un percorso a spirale) , e ne quantifica l'entita' e la classificazione del difetto utilizzando formule matematiche.

Classificazione del difetto
Posizione difetto: il pezzo da esaminare e' praticamente suddiviso in 5 aree (bordo sinistro, quarto sinistro, centro, quarto destro, bordo destro) ed il difetto e' associato a una di queste aree col suo relativo indice di onda (H).

  • Nome del modello

    Misplana

  • Tecnologia

    Laser

  • Tipo di misura

    Sistema di misurazione della planarita' laser e quantificazione dell'indice di onda

  • Soluzione ideale per identificare

    Difetto altezza (H): differenza tra i valori misurati massimo e minimo. Durante la scansione e' possibile che di piu' viene rilevato un massimo o minimo. In questo caso i valori sono presi in coppia di due.

    Lunghezza d'onda del difetto: (L): distanza tra i due valori minimi corrispondenti al massimo.

    Indice di Onda (Wave Index) percentuale: (IO)

  • DATO DI OUTPUT

    I Unit (IU) : 24,67*sqr(IO)

Dettagli

Il sistema e' in grado di rendere disponibile in forma analogica e/o su protocollo Ethernet, Profibus o OPC i dati di output relativi alla scansione nell'intorno della non confromita'.

Vengono valutati:

  • Indice d'onda (Wave Index IO)

  • Indice di Unita' - UNIT INDEX (IU)

  • Lunghezza d'onda longitudinale del difetto (L)

  • Altezza del difetto (H)

  • Posizione del difetto (solo se longitudinale)

  • Classificazione del difetto in base ad IO

  • Posizione dei sensori

  • Stato del sistema

Una delle soluzioni piu' semplici ed efficienti per l'analisi quantitativa della planarita' superficiale. Uno strmento utile che riproduce esattamente cio' che farebbe un operatore di linea in presenza del difetto.
  • Misure real time (On-Time RT Kernel)
  • Software collaudato e semplice sviluppato in linguaggio C